错误注入攻击测试用芯片表面空间敏感点搜寻方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202110198722.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112989439A | 公开（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申请公布号 | CN112989439A | 申请公布日 | 2021-06-18 |
| 分类号 | G06F21/71 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 马哲;潘雨洋;张祖松;张永峰;李彦昭 | 申请（专利权）人 | 北京银联金卡科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 满靖 |
| 地址 | 100043 北京市石景山区实兴大街30号院18号楼1层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种错误注入攻击测试用芯片表面空间敏感点搜寻方法及装置。方法包括令待测芯片进入相应工作状态，同时执行如下步骤：机械臂带动电磁探头对待测芯片表面空间上的待测区域进行粗搜索，找出所有具有高风险值的子区域；机械臂继续带动电磁探头依次对各具有高风险值的子区域进行最优点搜索，找出高风险值点；通过聚类算法确定出待测芯片的表面空间上出现的所有高风险区域，并将各高风险区域中出现的风险值最高的点作为敏感点；待测芯片表面空间敏感点搜寻完成。本发明能够快速、准确地寻找到芯片表面空间存在的敏感点，利于攻击测试使用。 |
