一种笔电外壳缺陷快速检测算法
基本信息
| 申请号 | CN202011618739.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112700415A | 公开（公告）日 | 2021-04-23 |
| 申请公布号 | CN112700415A | 申请公布日 | 2021-04-23 |
| 分类号 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 刘子平;韦世强 | 申请（专利权）人 | 重庆宇海精密制造股份有限公司 |
| 代理机构 | 重庆百润洪知识产权代理有限公司 | 代理人 | 程宇 |
| 地址 | 402760重庆市璧山区璧泉街道聚金大道1号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种笔电外壳缺陷快速检测算法，通过分别采集待检验笔电外壳的待测图像和无缺陷笔电外壳的标准模板图像，并在待测图像和标准模板图像内截取用于进行对比的部分图像，将其转化为包含灰度值的二维数组，经过粗定位和精确定位将截取至标准模板图像的部分图像对应投射至待测图像内，并进行和差运算，从而找出部分图像内的不同处，最后经过遍历对比，即可找出待检验笔电外壳的待测图像和无缺陷笔电外壳的标准模板图像是否存在不同之处，从而对笔记本电脑外壳是否存在缺陷进行自动判断，从而提高笔记本电脑外壳缺陷检验的效率。 |
