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一种时钟芯片的测试系统及其测试方法

基本信息

申请号 CN201810085818.6 申请日 -
公开（公告）号 CN108226756B 公开（公告）日 2018-06-29
申请公布号 CN108226756B 申请公布日 2018-06-29
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 魏人同;龙盛朝 申请（专利权）人 深圳市兴威帆电子技术有限公司
代理机构 深圳新创友知识产权代理有限公司 代理人 深圳市兴威帆电子技术有限公司
地址 518000广东省深圳市福田区梅华路207号安通大厦三楼东
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种时钟芯片的测试系统及其测试方法；所述测试系统包括微控制器、计数器和高速时钟源；所述微控制器用于将测试逻辑写入待测时钟芯片和对待测时钟芯片进行设置以使待测时钟芯片输出报警中断；所述计数器用于计算待测时钟芯片产生的报警中断的周期；所述高速时钟源用于替代待测时钟源产生时钟脉冲信号；所述高速时钟源的频率大于待测时钟源的频率。所述测试方法包括测试计时逻辑和测试计时精度。本发明用一个测试系统即可实现测试计时逻辑和测试计时精度，有利于降低测试成本，提高性价比。