一种准确测定双面受光叶片光强的方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201610519685.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106226465B | 公开（公告）日 | 2018-09-28 |
| 申请公布号 | CN106226465B | 申请公布日 | 2018-09-28 |
| 分类号 | G01N33/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郭峰 | 申请（专利权）人 | 上海泽泉科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海硕力知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 郭桂峰 |
| 地址 | 200062 上海市普陀区金沙江路1038号华大科技园2号楼8层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种准确测定双面受光叶片光强的方法及装置，该方法包括S1测量第一测定光源至叶片一面之间的入射光的强度；S2测量第一测定光源透过叶片一面后出射光的强度；S3测量第二测定光源至叶片另一面之间的入射光的强度；S4测量第二测定光源透过叶片背面另一面后出射光的强度；S5根据S1‑S4计算获得所述叶片接收到的实际光照强度。本发明不仅能够满足对叶片双面测定，还能够准确反映叶片的实际受光强度，进而提高测量的精准度。 |
