首页/ 四川大雁微电子有限公司/ 专利详情

肖特基器件的耐压不良的检测电路

基本信息

申请号 CN201220052341.X 申请日 -
公开（公告）号 CN202471905U 公开（公告）日 2012-10-03
申请公布号 CN202471905U 申请公布日 2012-10-03
分类号 G01R31/26(2006.01)I;B07C5/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 彭坚;李升桦 申请（专利权）人 四川大雁微电子有限公司
代理机构 成都天嘉专利事务所（普通合伙） 代理人 四川大雁微电子有限公司
地址 629000 四川省遂宁市玉龙路1号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了肖特基器件的耐压不良的检测电路，对于双芯片共引脚的肖特基器件，有两个引脚极性是一样的，另外一个为共用引脚，其特征在于：将所述共用引脚悬空，在相同极性的两个引脚之间串接一个用于检测测试流过相同极性的两个引脚之间电流的电流表；同时，在相同极性的两个引脚之间连接一个可施加正向的额定电压和反向的额定电压的电压源；当肖特基器件正常时，电流表测得的电流值应为肖特基器件的漏电流值，如果测得的电流值很大，远远超出漏电流值，说明肖特基器件已损坏；本实用新型可快速、准确地筛选出特性不良的肖特基器件，同时不会造成产品的损坏和影响其它参数的检测；通过本实用新型筛选后的肖特基器件，质量好。