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一种超小型封装霍尔开关元器件测试座

基本信息

申请号	CN201420719133.X	申请日	-
公开（公告）号	CN204255990U	公开（公告）日	2015-04-08
申请公布号	CN204255990U	申请公布日	2015-04-08
分类号	G01R1/04(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	杨林;吴勇	申请（专利权）人	四川大雁微电子有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	629099 四川省遂宁市玉龙路1号
法律状态	-

摘要

超小型封装霍尔开关元器件测试座，其特征在于，包括基台，基台上有圆形的基柱，基柱外围绕有线圈，线圈连接电源。线圈通电时产生的磁场环绕整个测试座。基柱上设有多个贯穿的针孔，针孔的数量及孔的布置关系与待测霍尔开关元器件的管脚匹配，每个针孔内从上到下依次嵌有探针和与探针匹配的针套，针套底端连接到测试机。探针和针套安装后，探针高于基柱顶表面2~4mm，探针被下压时，其最大行程为探针顶端下降到与基柱顶表面在同一水平面。探针顶部设有凹槽，测试座设置在三维调节基座上。本实用新型可解决霍尔开关IC在测试时接触不好、产品叠加、管脚压弯、需要在磁场下测试等问题，测量精确度高，并可与自动分选机匹配，提高自动化程度，节约成本。