支持DRAMx16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备
基本信息
| 申请号 | 2020111931040 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112270948A | 公开（公告）日 | 2021-01-26 |
| 申请公布号 | CN112270948A | 申请公布日 | 2021-01-26 |
| 分类号 | G11C29/18(2006.01)I; | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 赖俊生;曾理 | 申请（专利权）人 | 皇虎测试科技（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 成都顶峰专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 王伟 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区科技北二路25号航天微电机大厦B座二楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及内存测试技术领域，公开了一种支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备，所述方法包括：关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。本发明能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。 |
