数显卡尺刻度膜
基本信息
申请号 | CN202030682674.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN306776297S | 公开(公告)日 | 2021-08-24 |
申请公布号 | CN306776297S | 申请公布日 | 2021-08-24 |
分类号 | - | 分类 | - |
发明人 | 蒋青谷;董中新;肖丹;秦岗 | 申请(专利权)人 | 桂林广陆数字测控有限公司 |
代理机构 | 深圳市千纳专利代理有限公司 | 代理人 | 黄良宝 |
地址 | 541213 广西壮族自治区桂林市灵川县定江镇长丰路27号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 1、本外观设计产品的名称:数显卡尺刻度膜。2、本外观设计产品的用途:用于数显卡尺产品中,主要是辅助数显卡尺测量数据读数以及保护数显卡尺传感器(定栅)。3、本外观设计产品的设计要点:在于主视图。4、最能表明设计要点的图片或照片:主视图。5、本外观设计为薄形产品,省略其余视图。 |
