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微波暗室及相应的天线测试系统

基本信息

申请号 CN201721635890.9 申请日 -
公开（公告）号 CN207502620U 公开（公告）日 2018-06-15
申请公布号 CN207502620U 申请公布日 2018-06-15
分类号 G01R29/10;G01R23/16;G01R1/04;G01S7/40 分类 测量；测试;
发明人 史文虎;杨宁;谭维耿 申请（专利权）人 中国银行股份有限公司上海市浦东开发区支行
代理机构 上海智信专利代理有限公司 代理人 上海英恒电子有限公司
地址 201203 上海市浦东新区张衡路1000弄润和国际68号楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种微波暗室及相应的天线测试系统，包括微波箱、辅助天线部分和待测天线部分，且所述的辅助天线部分和待测天线部分均具有可保持变量单一化的夹持机构，且所述的辅助天线部分和所述的待测天线部分都设置于箱体内部，微波箱为一覆盖有吸波材料的微波箱。本实用新型可用于远场测试，针对毫米波频段，由于其具有能够保持变量的单一性的辅助天线夹持机构和待测天线夹持机构，可以保证待测天线和辅助天线在测量过程中变化的变量可控，最大程度的保证了测试的单一变量原则及待测天线、辅助天线的稳定。因此，可针对不同的天线板使用，十分方便快捷，且节省空间，同时测量精度更高，并可通过调整不同的结构件可以测量各种形状的天线。