一种表面测量方法、装置以及系统
基本信息
| 申请号 | CN201610293153.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105806195B | 公开（公告）日 | 2018-07-27 |
| 申请公布号 | CN105806195B | 申请公布日 | 2018-07-27 |
| 分类号 | G01B5/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张宏立;阙正湘 | 申请（专利权）人 | 湖南科瑞特科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 湖南科瑞特科技股份有限公司 |
| 地址 | 410000 湖南省长沙市高新区麓谷大道627号新长海麓谷中心第2栋二楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种表面测量方法、装置及系统，该方法包括：将刀具移动到待测量部件的待检测表面的基准点的位置，根据基准点建立三维坐标系得到基准点的坐标；确定待检测表面上的多个待检测位置，将刀具分别移动到待检测位置的正上方；移动探针以使针尖接触到待检测表面，移动刀具以使刀尖接触到待检测位置，在针尖和刀尖均接触到待检测表面时形成闭合回路，产生触发信号；分别获取触发信号产生时待检测位置相对于基准点在z轴上的高度，结合基准点的z轴坐标得到待检测位置在z轴上的坐标；利用各待检测位置在x、y以及z轴上的坐标值得到待检测表面的函数；利用函数得到待检测表面各点的位置坐标，实现对待检测表面的测量。 |
