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一种克服尺寸效应的岩体结构面粗糙度评价方法

基本信息

申请号 CN201310665286.0 申请日 -
公开（公告）号 CN103644866A 公开（公告）日 2014-03-19
申请公布号 CN103644866A 申请公布日 2014-03-19
分类号 G01B11/30(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 唐辉明;葛云峰;王亮清 申请（专利权）人 中部知光技术转移有限公司
代理机构 武汉华旭知识产权事务所 代理人 中国地质大学（武汉）;中部知光技术转移有限公司
地址 430074 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种克服尺寸效应的岩体结构面粗糙度评价方法，操作步骤为：在天然岩体结构面上，选取具有代表性长度为L的大尺寸剖面，并对剖面进行标示；沿选定的剖面架设测量仪器，在剖面上采集n条长度为l的小尺寸剖面；确保采集数量n大于有效采集数量ne；对获取的n条剖面进行数字化；采用变量图法计算n条剖面的分形维数D，得到n个分形维数D值；将n个分形维数D值进行平均，获得分形维数平均值通过来描述所选择长度为L的大尺寸剖面粗糙度，实现以小尺寸岩体结构面粗糙度来表征大尺寸岩体结构面粗糙度，并消除尺寸效应带来的误差。本发明通过测量部分岩体结构面粗糙度来评价整体岩体结构面粗糙度，评价结果真实可靠，具有较高精度。