一种克服尺寸效应的岩体结构面粗糙度测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201310665286.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN103644866B | 公开（公告）日 | 2014-12-24 |
| 申请公布号 | CN103644866B | 申请公布日 | 2014-12-24 |
| 分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 唐辉明;葛云峰;王亮清 | 申请（专利权）人 | 中部知光技术转移有限公司 |
| 代理机构 | 武汉华旭知识产权事务所 | 代理人 | 中国地质大学（武汉）;中部知光技术转移有限公司 |
| 地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种克服尺寸效应的岩体结构面粗糙度评价方法，操作步骤为：在天然岩体结构面上，选取具有代表性长度为L的大尺寸剖面，并对剖面进行标示；沿选定的剖面架设测量仪器，在剖面上采集n条长度为l的小尺寸剖面；确保采集数量n大于有效采集数量ne；对获取的n条剖面进行数字化；采用变量图法计算n条剖面的分形维数D，得到n个分形维数D值；将n个分形维数D值进行平均，获得分形维数平均值 |
