磁性芯片磁参数批量化测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201420042144.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN203811788U | 公开（公告）日 | 2014-09-03 |
| 申请公布号 | CN203811788U | 申请公布日 | 2014-09-03 |
| 分类号 | G01R33/12(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 于晓东 | 申请（专利权）人 | 宜昌东方微磁科技有限责任公司 |
| 代理机构 | 宜昌市三峡专利事务所 | 代理人 | 成钢 |
| 地址 | 443009 湖北省宜昌市点军区联棚乡宜昌东方微磁科技有限责任公司 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 磁性芯片磁参数批量化测试系统，包括磁场发生装置，位于磁场发生装置磁场区域的测试平台，被测芯片放置在测试平台上，磁场发生装置连接电源和调压器，磁场发生装置通过控制电路模块连接处理器装置；被测芯片通过数据采集模块连接处理器装置。本实用新型一种磁性芯片磁参数批量化测试系统，可对芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。 |
