一种双沟道MOSFET器件及其制造方法

基本信息

申请号 CN202210631851.0 申请日 -
公开(公告)号 CN114709258A 公开(公告)日 2022-07-05
申请公布号 CN114709258A 申请公布日 2022-07-05
分类号 H01L29/423(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 赵浩宇;李伟聪;姜春亮;雷秀芳 申请(专利权)人 深圳市威兆半导体股份有限公司
代理机构 深圳鼎恒诚知识产权代理有限公司 代理人 -
地址 518000广东省深圳市南山区桃源街道福光社区留仙大道3370号南山智园崇文园区3号楼1301
法律状态 -

摘要

摘要 一种双沟道MOSFET器件及其制造方法,器件包括至少一个元胞,元胞包括:漏区、第一漂移区、第二漂移区、横向沟槽栅、体区、源区、竖向沟槽栅以及源极电极。第二漂移区位于第一漂移区的上方,横向沟槽栅位于第二漂移区中,横向沟槽栅包括横向栅极以及第一栅介质层;竖向沟槽栅包括竖向栅极以及第二栅介质层;第二栅介质层的底部与第二漂移区接触,或第二栅介质层的底部与第一栅介质层接触;其中,竖向栅极连接第二栅电极,横向栅极连接第一栅电极。通过分别设立竖向栅极和横向栅极,且将其分别引出不同的栅极电极,这样就可以形成横竖两种不同的导电沟道。通过给不同的栅极电极分别加电压,就可以有两种不同电压的阈值电压。