触控屏测试装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN201810249222.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108459232A | 公开（公告）日 | 2018-08-28 |
| 申请公布号 | CN108459232A | 申请公布日 | 2018-08-28 |
| 分类号 | G01R31/02;G01R31/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 邓元敏;刘双喜 | 申请（专利权）人 | 武汉华显光电技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 | 代理人 | 张志江 |
| 地址 | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号IT服务层03-01号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种触控屏测试装置及测试方法，其中触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，触控屏设置有第一测试端子，触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，上位机与测试治具连接，测试治具设置有第二测试端子，第一测试端子与第二测试端子配合连接；测试治具控制第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至驱动芯片，代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。本发明技术方案能够实现代码的自动烧录和测试，避免人工手动操作造成的漏烧录等问题，提高了触控屏的测试效率。 |
