LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201711442282.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108227250B | 公开（公告）日 | 2021-03-16 |
| 申请公布号 | CN108227250B | 申请公布日 | 2021-03-16 |
| 分类号 | G02F1/13 | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 张永易;郑颖博 | 申请（专利权）人 | 武汉华显光电技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 杨艇要 |
| 地址 | 430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种LCD质检方法，该方法包括：获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。本发明还公开了一种LCD质检装置、CIM系统及计算机存储介质。本发明可节约人工和时间成本，提高LCD产品的光学不良检出率，降低光学不良的误判率。 |
