测试控制装置、方法及微控制单元
基本信息
| 申请号 | CN202110626182.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113295957A | 公开（公告）日 | 2021-08-24 |
| 申请公布号 | CN113295957A | 申请公布日 | 2021-08-24 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I;G05B19/042（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吴勋;王春阳 | 申请（专利权）人 | 基合半导体（宁波）有限公司 |
| 代理机构 | 上海晨皓知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 成丽杰 |
| 地址 | 315499浙江省宁波市余姚市经济开发区城东新区冶山路 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例涉及测试技术领域，公开了一种测试控制装置、方法及微控制单元。测试控制装置包括：微控制单元、检测电路和采样单元，微控制单元用于先输出第一电压，并在在判定采样电压大于或等于预设阈值时，输出大于或等于待测部件的供电电压的第二电压，以供微控制单元对待测部件进行测试。本申请根据检测电路两端的电压是否大于或等于预设阈值，来判断待测部件是否已接入测试控制装置，并在检测到待测部件接入测试控制装置后，增大检测电路的输出电压，以对待测部件供电，避免在检测电路的输出电压较大时，将待测部件接入测试控制装置，可以显著减小接入过程中在待测部件内部产生的瞬间脉冲，进而提升了待测部件的良品率。 |
