一种芯片老化试验箱
基本信息
| 申请号 | CN202022595898.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213957431U | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN213957431U | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | G01R1/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨文祥 | 申请（专利权）人 | 苏州诺威特测控科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州科仁专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 郭杨 |
| 地址 | 215100江苏省苏州市吴中经济开发区吴中大道2588号21幢 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门、控制单元，其特征在于，所述箱门与所述箱体之间设置有电子式门吸锁，所述箱门与/或所述箱体上设置有通过采集高温试验腔内温度从而控制所述电子式门吸锁的温度感应装置，所述温度感应装置与控制单元输入端电连接，通过在高温试验箱上设置电子式门吸锁，采用电子式控制方式开关箱，使用方便；同时设置温度感应装置采集高温试验腔内温度，控制门吸锁的开关，对箱门开闭设置高温保护限制，避免在高温状态下打开箱门引起对人员的烫伤，提高安全性。 |
