芯片老化试验箱
基本信息
| 申请号 | CN202022598917.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214473477U | 公开（公告）日 | 2021-10-22 |
| 申请公布号 | CN214473477U | 申请公布日 | 2021-10-22 |
| 分类号 | G01R1/04;G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨文祥 | 申请（专利权）人 | 苏州诺威特测控科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州科仁专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 郭杨 |
| 地址 | 215000 江苏省苏州市吴中经济开发区吴中大道2588号21幢 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门，还包括设置在所述高温试验腔正上方用于制热的高温制热腔、设置于所述高温制热腔顶壁上的散热系统，所述散热系统包括固定于所述顶壁上的抽风口、安装于所述抽风口处的风门执行器。本实用新型提供了一种芯片老化试验箱，其通过风门执行器风阀的开闭，由鼓风机将高温制热腔内产生的热量从抽热风管道内抽出至室外，能快速散热、降低箱内的温度,方便拿取试验产品，操作简便安全，大大加快工作效率。 |
