一种太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统

基本信息

申请号 CN202010722330.7 申请日 -
公开(公告)号 CN111983814A 公开(公告)日 2020-11-24
申请公布号 CN111983814A 申请公布日 2020-11-24
分类号 G02B27/09(2006.01)I 分类 光学;
发明人 邱洪荣;金浩程 申请(专利权)人 常州市奥普泰克光电科技有限公司
代理机构 常州格策知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 徐静
地址 213000江苏省常州市新北区罗溪镇旺财路10号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统,第一球面镜的出光面与第二球面镜的入光面为边缘接触式连接,第二球面镜的出光面与第三球面镜的入光面之间设有间距,微透镜包括第一微透镜和第二微透镜,第一微透镜和第二微透镜的相对镜面的Y轴方向均设有球面阵列结构。通过上述方式,本发明采用三片球面镜对激光光束进行准直,再经过两片微透镜阵列在Y轴方向聚焦成线性光。三片球面镜对激光发散角进行压缩准直,微透镜阵列在Y方向对准直后的光束进行会聚,而对X方向的光束进行发散,最终在工作面上形成长度为180‑200mm,宽度为0.6‑0.8mm的线性光斑,相邻微透镜阵列之间重合光斑区域5mm,重叠光斑优化完成均匀度在90%左右。