快恢复二极管及快恢复二极管的制作方法

基本信息

申请号 CN201410536362.2 申请日 -
公开(公告)号 CN104269445B 公开(公告)日 2017-11-10
申请公布号 CN104269445B 申请公布日 2017-11-10
分类号 H01L29/861(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 义夫 申请(专利权)人 丽晶美能(北京)电子技术有限公司
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 丽晶美能(北京)电子技术有限公司;河南省丽晶美能电子技术有限公司
地址 100083 北京市海淀区学院路30号方兴大厦1010室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种快恢复二极管及快恢复二极管的制作方法。该快恢复二极管包括:具有凹槽的基体;掺杂结层,设置于凹槽的底部的基体中,掺杂结层的导电类型与基体的导电类型相反;介质层,设置于凹槽的侧壁上;以及金属层,设置于凹槽中以及基体的表面上,且金属层与掺杂结层和介质层相连。本发明通过在凹槽的侧壁上设置介质层,从而避免了金属层和凹槽的侧壁的直接接触,进而降低了由于质量不好的凹槽侧壁(干法刻蚀会导致凹槽侧壁的质量不好)与金属层接触产生的漏电流。同时,具有上述结构的快恢复二极管还能避免凹槽边缘产生电流聚集,从而能够在肖特基区域获得一个更均匀的电流分布,进而提高了快恢复二极管的可靠性。