一种基于核密度估计的伪装效果评估方法
基本信息
| 申请号 | CN201811181565.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109447954A | 公开（公告）日 | 2019-03-08 |
| 申请公布号 | CN109447954A | 申请公布日 | 2019-03-08 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I; G06K9/46（2006.01）I; G06K9/62（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 宫久路; 闫磊; 谌德荣; 王鹏飞; 彭林科; 胡宏华; 陈乾 | 申请（专利权）人 | 北京航宇天穹科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100081 北京市海淀区中关村南大街5号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种基于核密度估计的伪装效果评估方法。该方法包括：自动获取目标尺寸的背景子区域；计算图像的特征向量并利用相似性度量方法计算样本距离；计算核密度估计模型的参数，构建背景特征分布模型；计算目标特征在背景特征分布模型中的匹配概率，进而计算特征的识别概率；比较伪装前后特征的识别概率来评估伪装效果。与当前伪装评估方法相比，本发明具有不依赖人工判读、所需样本数据量少、且能够适用于当前任意识别特征等优点。 |
