多个内存芯片同时测试的测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202122154897.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215417542U | 公开（公告）日 | 2022-01-04 |
| 申请公布号 | CN215417542U | 申请公布日 | 2022-01-04 |
| 分类号 | G11C29/08（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 杨瑞 | 申请（专利权）人 | 深圳市汇申电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市中科创为专利代理有限公司 | 代理人 | 徐方星;杨春 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A15栋501 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型属于内存芯片技术领域，具体涉及多个内存芯片同时测试的测试装置，包括底座和测试用主板，所述底座的上表面安装有测试用主板，所述底座的左端焊接有导向架，且导向架的右侧通过活动机构安装有定位座，且定位座的上端焊接有把手，所述定位座的下端开设有安装槽，且安装槽的右端开设有通孔，所述通孔内横向插设有连接杆，且连接杆的右端设置有把柄，所述连接杆的左端固定焊接有限位板。该多个内存芯片同时测试的测试装置通过设置安装槽来码放多个内存芯片，并在码放时，利用横向抽拉把柄来带动限位板在安装槽内进行横向移动，通过限位板来对码放的内存芯片进行支撑和限位，避免内存芯片在逐渐堆放过程中出现松散倾倒的现象。 |
