一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201710118670.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106872880B | 公开（公告）日 | 2019-11-19 |
| 申请公布号 | CN106872880B | 申请公布日 | 2019-11-19 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郭龙吉 | 申请（专利权）人 | 吉安市井开区吉军科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京成实知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈永虔 |
| 地址 | 224006 江苏省盐城市盐都区盐龙街道智能终端创业园二期S-19栋C(D) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明的一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法，中央处理器与外部的PC上位机相连，中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，机械转盘上设有测试座，测试座中设有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针；测试平台上设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯。本发明具有提高芯片测试过程的工作效率和可靠性的积极效果。 |
