结构面粗糙度系数尺寸效应取样代表性评价方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

结构面粗糙度系数尺寸效应取样代表性评价方法

基本信息

申请号	CN201510101166.7	申请日	-
公开（公告）号	CN104834806B	公开（公告）日	2017-12-12
申请公布号	CN104834806B	申请公布日	2017-12-12
分类号	G06F19/00(2011.01)I	分类	计算；推算；计数;
发明人	杜时贵;雍睿;黄曼;刘育明;夏才初;刘文连;任伟中;李长宏	申请（专利权）人	浙江有色空间规划设计有限公司
代理机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司	代理人	绍兴文理学院
地址	312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号
法律状态	-

摘要

一种结构面粗糙度系数尺寸效应取样代表性评价方法，选定典型岩体结构面作为粗糙度系数尺寸效应的研究对象并采用轮廓曲线仪定向测量尺寸效应最大研究尺寸的结构面轮廓线，依据现场大尺度岩体结构面表面形态要素测量结果，提取系列尺寸结构面试样的表面坐标信息，计算系列试样的粗糙度系数，对标准尺寸样本数据的总体分布进行概率密度函数拟合；构建结构面粗糙度系数尺寸效应概率密度函数模型；依据极大似然估计原理，计算系列尺度结构面粗糙度系数概率密度函数最大值；通过每个结构面试样的粗糙度系数与代表性评价指标的相对偏差分析，确定每个试样的粗糙度系数表征值。本发明解决结构面粗糙度系数尺寸效应试样代表性的定量评价问题、可靠性良好。