结构面粗糙度系数尺寸效应试样表征单元确定方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

结构面粗糙度系数尺寸效应试样表征单元确定方法

基本信息

申请号	CN201510101317.9	申请日	-
公开（公告）号	CN104833333B	公开（公告）日	2017-06-20
申请公布号	CN104833333B	申请公布日	2017-06-20
分类号	G01B21/30(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	杜时贵;雍睿;黄曼;梁奇锋;罗战友;胡云进;夏才初;伍法权	申请（专利权）人	浙江有色空间规划设计有限公司
代理机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司	代理人	绍兴文理学院
地址	312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号
法律状态	-

摘要

一种结构面粗糙度系数尺寸效应试样表征单元确定方法，选定出露良好的典型岩体结构面作为研究对象，依据现场大尺度岩体结构面表面形态要素测量结果，根据试样尺寸与样本数计算相邻结构面粗糙度试样的重叠长度，迭代提取系列尺寸结构面试样的表面坐标信息；计算系列试样的粗糙度系数，对各尺寸样本数据的总体分布进行Weibull分布概率密度函数拟合，构建结构面粗糙度系数尺寸效应概率密度函数模型；通过每个结构面试样的粗糙度系数与代表性评价指标的相对偏差分析，搜索各尺寸条件下试样粗糙度系数表征值的最小值，确定结构面粗糙度系数表征单元。本发明有效解决结构面粗糙度系数尺寸效应研究试样选取的唯一性、保证试验结果的可重复性问题。