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结构面粗糙度系数尺寸效应概率密度函数模型的构建方法

基本信息

申请号 CN201510101573.8 申请日 -
公开（公告）号 CN104881564B 公开（公告）日 2017-10-13
申请公布号 CN104881564B 申请公布日 2017-10-13
分类号 G06F17/15(2006.01)I 分类 计算；推算；计数;
发明人 杜时贵;雍睿;黄曼;刘育明;夏才初;刘文连;任伟中;李长宏 申请（专利权）人 浙江有色空间规划设计有限公司
代理机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 代理人 绍兴文理学院
地址 312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号
法律状态 -

摘要

摘要 一种结构面粗糙度系数尺寸效应概率密度函数模型的构建方法，包括以下步骤：根据结构面轮廓线定向测量结果，采用大型扫描仪将记录结构面轮廓线的图纸进行扫描，并转换成图片格式文本；根据结构面试样的表面坐标信息，采Barton直边法简明公式计算系列试样的粗糙度系数；基于唯像学和显著性检验，分别对各尺寸样本数据的总体分布进行Weibull概率密度函数拟合(1)；探索Weibull分布中尺度参数a、形状参数b与试样尺寸l的函数关系，进而可构建结构面粗糙度系数尺寸效应概率密度函数模型(2)。本发明能能够准确描述尺寸效应对结构面粗糙度系数统计规律的影响，从而能够方便、快速地估计系列尺寸结构面的抗剪强度。