一种基于ASIC验证的旁路验证系统及验证方法
基本信息
| 申请号 | CN201710464343.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107271882B | 公开（公告）日 | 2019-07-26 |
| 申请公布号 | CN107271882B | 申请公布日 | 2019-07-26 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I; G01R31/317（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王鹏; 高鹏; 吴涛 | 申请（专利权）人 | 上海市信息技术研究中心 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 余明伟 |
| 地址 | 201210 上海市浦东新区海科路99号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种基于ASIC验证的旁路验证系统及方法，包括：转接设计单元连接各单元，为各单元提供信号传输通路；激励逻辑设计单元通过转接设计单元与目标逻辑单元形成时钟通路；待测设计单元通过转接设计单元与激励逻辑设计单元形成测试激励源通路；待测设计单元通过转接设计单元与目标逻辑单元形成旁路数据通路；待测设计单元所需的测试激励源的协议与激励逻辑设计单元输出的测试激励源的协议一致。本发明在保留原有逻辑单元之间信息识别和加密认证的前提下，搭载激励源数据，通过旁路数据通路的方式对待测设计单元进行功能验证，简化了验证流程，提高了验证的效率，降低了实现成本。 |
