一种SMD电容检测耐压测试装置
基本信息
申请号 | CN202120818171.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN214953891U | 公开(公告)日 | 2021-11-30 |
申请公布号 | CN214953891U | 申请公布日 | 2021-11-30 |
分类号 | G01R31/12(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 刘世军;杜正明;许建锋 | 申请(专利权)人 | 四川特锐祥科技股份有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 621000四川省绵阳市游仙经济开发区三江路1号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种SMD电容检测耐压测试装置,包括操作台、支撑柱及转盘,支撑柱位于操作台上表面的中间位置且处于竖直状态,转盘设置在支撑柱的顶部位置,转盘上表面的中间位置沿竖直方向设置有稳固柱,稳固柱的外侧设置有转动板、限位片及第二弹簧,转动板的侧面沿水平方向设置有拉伸机构,拉伸机构包括移动柱及转动柱,转动柱的左端嵌入移动柱右端表面内部,移动柱左端设置有放置盒,转盘的上表面设置有限位半框,限位半框相对表面分别设置有弹动机构,弹动机构包括固定柱、移动板及第一弹簧,放置盒位于移动板之间;转盘转动后放置盒位于检测探针下侧对电容耐压测试,便于放置电容且取出电容,节省时间并在一定程度上提高了检测效率。 |
