电子设备的测试系统及测试方法
基本信息
申请号 | CN201410855870.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN104506854A | 公开(公告)日 | 2015-04-08 |
申请公布号 | CN104506854A | 申请公布日 | 2015-04-08 |
分类号 | H04N17/00(2006.01)I | 分类 | 电通信技术; |
发明人 | 杨振西;吴安华 | 申请(专利权)人 | 南京慧行汽车科技有限公司 |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王宝筠 |
地址 | 100191 北京市海淀区龙翔路甲1号泰翔商务楼4层401-409 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了电子设备的测试系统,包括被测设备平台、拍摄对象平台和控制器;被测设备平台包括第一支架、第二支架、以及设置于第一支架和第二支架之间的传送装置,传送装置的承载件能够放置多个待测电子设备;拍摄对象平台设置于被测设备平台的前方,拍摄对象平台能够放置多个拍摄对象,多个拍摄对象与被测设备平台之间的距离满足待测电子设备的测试物距要求,相邻两个拍摄对象在第一方向上的间距为第一数值;控制器与传送装置连接,控制器控制传送装置按照预设时间间隔运转,并且传送装置的承载件在每次运转过程中行进的距离为第一数值。利用本发明公开的测试系统,能够提高测试效率,降低人力成本。本发明还公开了电子设备的测试方法。 |
