一种检测光学系统任意波长光学参数的方法
基本信息
| 申请号 | CN202110186511.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112985776A | 公开（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申请公布号 | CN112985776A | 申请公布日 | 2021-06-18 |
| 分类号 | G01M11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张齐元;王芳;韩森;王浩宇;朱大勇 | 申请（专利权）人 | 苏州慧利仪器有限责任公司 |
| 代理机构 | 上海德昭知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郁旦蓉 |
| 地址 | 215164 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路150号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种检测光学系统任意波长光学参数的方法，属于光学检测技术领域，用于检测光学系统的多波长的光学参数，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，采用光学仪器分别对所述光学系统进行检测获得所述光学系统在R种波长分别为λ1～λr的参考光学参数f（λ1）、f（λ2）、······f（λr）；步骤S2，将步骤S1得到的所述光学参数带入公式：式中，当D＝0时（即只有前3项时）R≥3，当D≠0时R≥4，n≥max{X1,X2}，计算参数A、B、C以及D的值；步骤S3，将计算得到的A、B、C以及D带入公式中，计算波长为λm的光学系统的光学参数。 |
