一种制作InSb红外探测器的材料结构及其制备方法
基本信息
申请号 | CN201910074399.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109817754A | 公开(公告)日 | 2019-05-28 |
申请公布号 | CN109817754A | 申请公布日 | 2019-05-28 |
分类号 | H01L31/105(2006.01)I; H01L31/0352(2006.01)I; H01L31/0304(2006.01)I; H01L31/18(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 张杨; 赵晓蒙 | 申请(专利权)人 | 中科芯电半导体科技(北京)有限公司 |
代理机构 | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 孙艳敏;张晓斐 |
地址 | 100076 北京市大兴区西红门镇金盛大街2号院23号楼二层(中科芯电) | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种制作InSb红外探测器的材料结构及其制备方法,该材料结构包括衬底、以及在衬底上依次生长的防漏电缓冲层、n型InSb重掺杂层、InSb本征吸收层、p型InSb轻掺杂层、p型AlInSb势垒层和p型InSb重掺杂层。制备方法是在衬底上采用MBE的方法依次生长防漏电缓冲层、n型InSb重掺杂层等。本发明通过防漏电缓冲层减少了InSb的缺陷密度和漏电流,采用p型重掺杂势垒层,降低了InSb红外探测器的在反偏电压下的暗电流和工作时的噪声电流,提高了探测率和最高工作温度。 |
