一种用于检测背光模组的电路结构
基本信息
申请号 | CN201520707547.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN205028626U | 公开(公告)日 | 2016-02-10 |
申请公布号 | CN205028626U | 申请公布日 | 2016-02-10 |
分类号 | G09G3/00(2006.01)I;G01R31/44(2006.01)I | 分类 | 教育;密码术;显示;广告;印鉴; |
发明人 | 薛峰 | 申请(专利权)人 | 东莞市亚通光电有限公司 |
代理机构 | 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人 | 罗晓林 |
地址 | 523000 广东省东莞市塘厦镇蛟乙塘宝石路16号B1 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种用于检测背光模组的电路结构,具有输入端IN和输出端OUT,包括可控硅Q1、三极管Q2、三极管Q3、光耦合器、电容C和电阻R2,光耦合器和电阻R2串联连接后与可控硅Q1的发射极和电容C连接,电容C通过线路分别与可控硅Q1的基极、光耦合器连接,可控硅Q1的基极与电容C之间还设有电阻R4,可控硅Q1的集电极通过线路与光耦合器连接,三极管Q2的集电极与电容C连接,三极管Q2的基极与三极管Q3的集电极连接,三极管Q3的基极通过线路连接至光耦合器,三极管Q3的基极通过电阻R7与该三极管Q3的发射极连接,可控硅Q1、三极管Q2和三极管Q3的发射极通过线路与输入端连接。本实用新型检测方便,能够自动转换电流。 |
