一种VCSEL测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202023005973.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214066470U | 公开（公告）日 | 2021-08-27 |
| 申请公布号 | CN214066470U | 申请公布日 | 2021-08-27 |
| 分类号 | G01M11/02（2006.01）I;B65G47/04（2006.01）I;B65G47/34（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王胜利;刘振辉 | 申请（专利权）人 | 矽电半导体设备（深圳）股份有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518172广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种VCSEL测试系统。一种VCSEL测试系统，包括，依次设置的，上料机，用于放置待测试的VCSEL元器件；远场测试机，用于对VCSEL元器件进行远场测试；发光角度测试机，用于对VCSEL元器件进行发光角度测试；下料机，用于放置测试后的VCSEL元器件；本领域技术人员能够根据对VCSEL元器件测试要求选择不同的机器组合，从而将远场测试机和/发光角度测试机替换或增加其它测试设备，从而完成对VCSEL元器件的测试要求。 |
