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一种测试探针

基本信息

申请号 CN202021293392.2 申请日 -
公开（公告）号 CN213457048U 公开（公告）日 2021-06-15
申请公布号 CN213457048U 申请公布日 2021-06-15
分类号 G01R1/067（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 刘振辉;韦日文 申请（专利权）人 矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 518172广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种能够划破蓝膜的测试探针。一种测试探针，所述测试探针设置有刀片部，所述刀片部具有导电性；通过该刀片部划破蓝膜，简单可靠；解决了圆锥状尖端的探针不便于划破蓝膜的问题。