一种提高光栅传感器测量精度的方法及转接卡
基本信息
| 申请号 | CN201310746904.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104748687A | 公开（公告）日 | 2015-07-01 |
| 申请公布号 | CN104748687A | 申请公布日 | 2015-07-01 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张厚武;姚凯学;刘光林 | 申请（专利权）人 | 贵州英特利智能控制工程研究有限责任公司 |
| 代理机构 | 贵阳中新专利商标事务所 | 代理人 | 刘楠 |
| 地址 | 550009 贵州省贵阳市小河区锦江路5号创业中心3楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种提高光栅传感器测量精度的方法及转接卡。该方法是在光栅传感器的输出端连接一个转接卡，转接卡上设有现场可编程门阵列芯片（FPGA），通过现场可编程门阵列芯片（FPGA）对光栅传感器输出的正弦波信号中完整的正弦波数量进行计数，将完整的正弦波数量作为测量值的整数位；转接卡上设有微控制芯片（MCU），微控制芯片（MCU）将不完整的正弦波细分之后作为测量值的小数位；将整数位与小数位组合后得到精确的测量值；以提高光栅传感器测量精度。本发明可使用低价位的光栅尺来实现高分辨率的测量；从而降低了硬件成本；由于对光栅刻线要求较低，完全改变了以前的数显箱方式,大大降低了外围设备。 |
