半导体器件测试装置(LSVCSSCI)
基本信息
| 申请号 | CN201930361119.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN305497565S | 公开（公告）日 | 2019-12-17 |
| 申请公布号 | CN305497565S | 申请公布日 | 2019-12-17 |
| 分类号 | 10-05（12） | 分类 | - |
| 发明人 | 蒋二龙; 周稳稳; 欧阳湘东 | 申请（专利权）人 | 莱森光学（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市港湾知识产权代理有限公司 | 代理人 | 莱森光学（深圳）有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道后亭茅洲山工业园工业大厦全至科技创新园科创大厦11层C | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 1.本外观设计产品的名称：半导体器件测试装置(LSVCSSCI)。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于半导体器件LIV特性曲线测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。 |
