一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片
基本信息
| 申请号 | CN201920836854.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209659316U | 公开（公告）日 | 2019-11-19 |
| 申请公布号 | CN209659316U | 申请公布日 | 2019-11-19 |
| 分类号 | H04B17/00（2015.01）I; G01R31/28（2006.01）I; G06K19/077（2006.01）I | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 王光春; 曾为民; 李向宏 | 申请（专利权）人 | 山东华翼微电子技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 济南诚智商标专利事务所有限公司 | 代理人 | 山东华翼微电子技术股份有限公司 |
| 地址 | 250101 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件园大厦B座B-302室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片，该测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口，通用数字测试机台与射频信号发生器连接，通用数字测试机台与接触式双向数字通信接口通信连接，射频信号发生器与射频接口通信连接。本申请的非接触卡芯片中包括射频接口和接触式双向数字通信接口，射频接口用于获取电源信号和时钟信号，接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。通过本申请能够提高芯片测试效率，提高测试过程中的抗干扰能力以及降低测试成本。 |
