一种基于BIM的基坑监测测点快速选取方法
基本信息
| 申请号 | CN201711206860.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108318010B | 公开（公告）日 | 2022-06-24 |
| 申请公布号 | CN108318010B | 申请公布日 | 2022-06-24 |
| 分类号 | G01C15/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 宫志群;李阳;龚益军;张艳涛;高东波;尹仕友;张朝阳 | 申请（专利权）人 | 上海同筑信息科技有限公司 |
| 代理机构 | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人 | 张金亭 |
| 地址 | 221000 江苏省徐州市环城路199号中建大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于BIM的基坑监测测点快速选取方法，采用以下步骤：一）建立基坑工程监测点与BIM模型中基坑监测测点一一对应，二）在BIM模型的世界坐标系O‑XYZ中，建立本地坐标系O1‑X1Y1Z1，三）确定本地坐标系O1‑X1Y1Z1与世界坐标系O‑XYZ之间的转换关系，四）将基坑监测测点在世界坐标系O‑XYZ中的坐标值转换为本地坐标系O1‑X1Y1Z1中的坐标值，用（a,b,c）表示，五）判断基坑监测测点（a,b,c）a的绝对值是否小于等于L/2，b和c的绝对值是否小于等于设定值，如果是，被选中，如果否，未被选中。本发明能够快速批量地框选三维模型中同一剖面附近的测点元素。 |
