激光器近场测试方法及测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201911057204.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110702384A | 公开（公告）日 | 2021-07-13 |
| 申请公布号 | CN110702384A | 申请公布日 | 2021-07-13 |
| 分类号 | G01M11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 潘华东;梁志敏;周立;王俊;李泉灵;廖新胜 | 申请（专利权）人 | 苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司 |
| 代理机构 | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张琳琳 |
| 地址 | 215163 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号2栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及激光器特性测试领域，具体涉及一种激光器近场测试方法及测试系统，其中，方法包括：获取驱动电源的频率；其中，所述驱动电源用于驱动被测激光器发光；利用所述驱动电源的频率确定采集频率；接收所述被测激光器在目标点的近场光强数据；其中，所述近场光强数据是基于所述采集频率所采集到的；根据所述近场光强数据，计算所述被测激光器在所述目标点的光强。该方法可以保证待测激光器输出周期与采样周期一致且采样时激光器处于输出状态，从而保证了测试的准确性。 |
