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漫反射光谱中抑制温度干扰的方法、光谱分析方法及装置

基本信息

申请号 CN201711473774.6 申请日 -
公开（公告）号 CN109991194A 公开（公告）日 2019-07-09
申请公布号 CN109991194A 申请公布日 2019-07-09
分类号 G01N21/47（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 吴明磊; 刘蓉; 徐可欣 申请（专利权）人 天津先阳科技发展有限公司
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 天津先阳科技发展有限公司
地址 300192 天津市滨海新区天津开发区第五大街41号B区五层6号
法律状态 -

摘要

摘要 本公开提供一种漫反射光谱中抑制温度干扰的方法、光谱分析方法及装置，包括：确定温度干扰因素对光谱测量的干扰模式；所述干扰模式包括：源‑探测器距离的改变；基于所述干扰模式，确定所述源‑探测器距离的特殊值，使漫反射光谱在所述源‑探测器距离的特殊值下抑制了温度干扰因素对光谱测量的干扰。利用温度不敏感源‑探测器距离处不包含温度干扰的信息，选取温度不敏感源‑探测器距离进行漫反射光谱分析可以有效避免温度变化的干扰，提高分析结果的可靠性；并且整个过程简单、方便；同时应用范围广泛。