一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法
基本信息
| 申请号 | CN202110682823.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113468003A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113468003A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G06F11/22（2006.01）I;G06F40/177（2020.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 郭希训;于威;刘圆;牛沿笼;孙怡乐;石加圣 | 申请（专利权）人 | 上海芷锐电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京钟山专利代理有限公司 | 代理人 | 戴朝荣 |
| 地址 | 201114上海市闵行区苏召路1628号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试数据的树形显示与操作系统和方法，系统包括：转换模块测试单元格式转换；整合模块测试单元数据和测试单元的整合；树形结构构造模块对表格型数据进行解析，将表格型数据转换为有层次结构的树形数据；显示模块将需要追踪的数据添加到波形窗口；数据操作模块对需要操作的树形数据进行操作。本发明将原始的文本数据按照树形结构显示，可以实时的响应用户的操作，对海量数据进行检索，设计的波形窗口可以对数据进行合并，拆分，进制转换等操作，解决了芯片测试的数据量大，数据不直观，难以追踪与比较的问题。 |
