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读出错测试方法与装置

基本信息

申请号	CN201610814329.0	申请日	-
公开（公告）号	CN107808686A	公开（公告）日	2018-03-16
申请公布号	CN107808686A	申请公布日	2018-03-16
分类号	G11C29/18;G11C29/44	分类	信息存储;
发明人	黄吉琼	申请（专利权）人	上海曼卜信息科技有限公司
代理机构	北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	北京忆恒创源科技有限公司
地址	100192 北京市海淀区西小口路东升科技园B-2号楼3层302室
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种固态存储设备的测试方法及装置。固态存储设备包括S+1个逻辑单元，S+1个逻辑单元提供多个页条带，页条带包括S+1个物理页，页条带中的S+1个物理页来自S+1个逻辑单元的每一个，每个物理页容纳一个逻辑页。固态存储设备的测试方法包括：向连续的逻辑地址A到逻辑地址A+S写入数据，其中，数据被写入页条带0，以及页条带1的物理页0；向连续的逻辑地址A+1到逻辑地址S+A+1写入数据；擦除页条带0与页条带1所在的物理块；向页条带0的物理页0与页条带1的物理页1写入存在不可纠正错误的数据；从逻辑地址A与A+1读取数据。本发明的实施例可以同时触发对多个存在不可纠正错误数据帧的页条带的读操作，从而测试固态存储设备能否正确工作。