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芯片内部节点电压的测试电路

基本信息

申请号 CN201410171081.1 申请日 -
公开（公告）号 CN103995169B 公开（公告）日 2016-07-20
申请公布号 CN103995169B 申请公布日 2016-07-20
分类号 G01R19/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 莫太山;沈林峰;卢炜超;郭岩武 申请（专利权）人 嘉兴泰鼎光电集成电路有限公司
代理机构 上海旭诚知识产权代理有限公司 代理人 郑立
地址 314100 浙江省嘉兴市嘉善县晋阳东路568号科创中心4号楼4407室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开一种芯片内部节点电压的测试电路，设置于芯片内部且用于测试芯片内部的2n个待测节点的节点电压。测试电路包括移位寄存器模块、电压选择模块、比较模块、待测节点选择模块及测试使能模块。电压选择模块的2n个输入端连接于移位寄存器模块的2n个输出端。比较模块的第一输入端与第二输入端分别连接于电压选择模块的第一输出端与第二输出端。待测节点选择模块的输入端连接于移位寄存器模块的2n个输出端与比较模块的输出端。测试使能模块包括测试使能单元，测试使能单元的输出端连接于移位寄存器模块、电压选择模块、比较模块及待测节点选择模块的使能端。本发明提供的芯片内部节点电压的测试电路具有极大的通用性。