一种量子芯片检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201910803521.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112444713B | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN112444713B | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孔伟成;朱美珍;杨夏;赵勇杰 | 申请（专利权）人 | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于芯片测试领域，具体公开了一种量子芯片检测方法。所述量子芯片上设置有多个一一对应的且相互耦合的量子比特装置和量子比特探测器、并联连接各个所述量子比特探测器的数据传输总线、耦合连接所述量子比特装置的第一控制信号传输线。所述数据传输总线用于接收量子比特读取信号和发射量子比特读取反馈信号，借助所述量子比特读取信号和所述量子比特读取反馈信号，依次检测并确定所述数据传输总线的传导性、所述量子比特探测器的工作参数以及工作性能；进而在所述第一控制信号传输线上施加直流偏置调控信号，检测所述第一控制信号传输线的传导性以及所述量子比特装置的工作性能，判断量子芯片是否合格，提供了量子芯片的标准检测方法。 |
