一种半导体量子点器件

基本信息

申请号 CN202120434495.4 申请日 -
公开(公告)号 CN214378456U 公开(公告)日 2021-10-08
申请公布号 CN214378456U 申请公布日 2021-10-08
分类号 H01L29/66(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/45(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 孔伟成;张辉;赵勇杰 申请(专利权)人 合肥本源量子计算科技有限责任公司
代理机构 - 代理人 -
地址 230088安徽省合肥市合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开了一种半导体量子点器件,包括硅基底;位于所述硅基底上的二氧化硅层,所述二氧化硅层上形成有离子注入窗口,其中,所述离子注入窗口用于向所述硅基底注入离子;位于所述二氧化硅层上的第一绝缘层,所述第一绝缘层上形成有与所述注入离子欧姆接触的欧姆电极;位于所述二氧化硅层上的量子点窗口,所述量子点窗口位于所述欧姆电极之间且裸漏出所述二氧化硅层;位于所述量子点窗口内的第一金属电极和磁体,其中,所述第一金属电极层叠布置,所述第一金属电极用于形成量子点,所述磁体用于对所述量子点进行调控。通过在所述量子点窗口内形成层叠的第一金属电极,可以对第一金属电极的尺寸和相对位置进行调整,提高了量子点参数的可调性。