低压变频器老化测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202010948693.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113466575A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113466575A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张树林;陈万燕;钱永;邓得宽 | 申请（专利权）人 | 成都希望电子研究所有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 610225四川省成都市双流区西航港机场路181号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种低压变频器老化测试装置，该装置由n台被测变频器、n组LC滤波器、电感、回馈变频器及环网接触器KM1组成。将第一台被测变频器三相输入端连接电网，三相输出端接LC滤波器，再串联接到下一台被测变频器，如此循环，实现级联老化，将最后一台串联被测变频器输出端接LC滤波器，再串联电感后接到回馈变频器输入端，其输出端串接LC滤波器，通过环网接触器KM1连接到电网。本发明整个测试系统中无电机，提高了变频器老化效率及老化装置可靠性，降低变频器老化能耗及负载电机维护成本。 |
