埋层终端结构

基本信息

申请号 CN202121395102.X 申请日 -
公开(公告)号 CN215183975U 公开(公告)日 2021-12-14
申请公布号 CN215183975U 申请公布日 2021-12-14
分类号 H01L29/40(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 李伟聪;林泳浩;姜春亮;王雯沁 申请(专利权)人 珠海市浩辰半导体有限公司
代理机构 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 代理人 刘自丽
地址 519000广东省珠海市高新区唐家湾镇软件园路1号会展中心1#四层5单元
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开一种埋层终端结构,包括N‑型半导体漂移区,N‑型半导体漂移区包括P型半导体场限环、P‑型半导体埋层和N+型半导体场限环,P型半导体场限环的宽度大于或等于N型半导体场限环的宽度,P‑型半导体埋层中的掺杂离子的浓度小于P型半导体场限环中的掺杂离子的浓度;绝缘介质层,设于N‑型半导体漂移区的上表面,分别与P型半导体场限环的部分上表面、P‑型半导体埋层的部分上表面和N+型半导体场限环的部分上表面接触,与P‑型半导体埋层的接触区设有接触孔;第一场板,通过接触孔与P‑型半导体埋层接触。本申请可以使埋层终端结构在高温下不容易击穿,可靠性和稳定性更好。