一种γ射线检测的曝光曲线计算方法
基本信息
| 申请号 | CN201610507061.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106125496B | 公开（公告）日 | 2018-10-30 |
| 申请公布号 | CN106125496B | 申请公布日 | 2018-10-30 |
| 分类号 | G03B42/00 | 分类 | 摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术〔4〕; |
| 发明人 | 安发顺;陈涛 | 申请（专利权）人 | 杭州杭锅工业锅炉有限公司 |
| 代理机构 | 杭州九洲专利事务所有限公司 | 代理人 | 翁霁明 |
| 地址 | 310004 浙江省杭州市余杭区良运街123号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种γ射线检测的曝光曲线计算方法，所述曝光曲线计算方法是：(一)基础参数获得；利用相关的器材获取基础参数，具体获取基础参数的步骤是：a)采用较长时间t1和较短时间t2，焦距F0固定，暗室处理过程全部固定，拍摄阶梯试块，获得两张不同时间的底片，用黑度计测定获得透照厚度与对应黑度的两个时间曝光下的数据，绘制两张D‑T曲线图；b)选定一基准黑度值，从D‑T曲线图中查出对应于该黑度的透照厚度。得到较长时间t1和较短时间t2曝光量对应的透照厚度值T1、T2；(二)曝光曲线计算法理论推导，其中利用射线的衰减公式及互易律公式，经计算最终得到拍摄的底片的黑度为基准黑度值3.0时所需要的曝光时间t3。 |
