一种二维单射曲面数据的特征提取与匹配方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种二维单射曲面数据的特征提取与匹配方法

基本信息

申请号	CN201010500552.0	申请日	-
公开（公告）号	CN101957992B	公开（公告）日	2012-05-02
申请公布号	CN101957992B	申请公布日	2012-05-02
分类号	G06T7/00(2006.01)I	分类	计算；推算；计数;
发明人	吴静;刘永进;罗曦	申请（专利权）人	苏州国溯科技有限公司
代理机构	北京鸿元知识产权代理有限公司	代理人	清华大学;苏州国溯环境发展有限公司
地址	100084 北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室
法律状态	-

摘要

一种二维单射曲面数据的特征提取和匹配方法，该方法首先将二维单射曲面数据投影到灰度值与数据值成正比的灰度图像，并将图像中的灰度值归一化到区间[0，255]中，然后从图像中提取特征点集；以特征点集中的每一个特征点作为参考点，在图像中绘制通过该特征点的等灰度线，且在图像中连接同一等灰度线上的特征点，这些等灰度线以及特征点之间的连线将图像划分成连续的区域块，根据区域块之间的包围和相邻关系构造一个Reeb图。对于需要匹配的两个二维单射曲面数据，通过匹配两个Reeb图中的结点，计算结点之间的相似度，所有匹配结点的相似度之和为两个二维单射曲面数据之间的相似度。本发明所提供的方法使得提取的特征容易计算，并且稳定性强。